非接触式比抵抗測定器 M-RES-2000シリーズの展示
・各種導電性基板の測定、Si, GaAs, InP, SiC等
・エピ膜、イオン注入により出来たメタルレイヤーの測定
・ウェーハ基板厚み測定による自動補正機能
- IWN2012 International Workshop on Nitride Semiconductors 2012
札幌コンベンションセンター 10/14~19
WORK SHOP エグゼクター C-3
IWN2012 ホームページ http://iwn2012.jp/ - セミコンジャパン2012
幕張メッセ 12/5~7 ブース NO. 4C-801
セミコンジャパンホームページ http://www.semiconjapan.org/ja/
昨年のセミコンジャパン2011にて
今まさに時代が求めている測定器です。
当社はKITECのビジネスパートナーとして日本国内でのウェーハデモ、 輸入~設置までサポートしております。 当社のKITEC社、比接触比抵抗計のサイト http://www.msolarsys.co.jp/otherprod/mems.html |