2012年10月15日月曜日

KITECの比接触式比抵抗測定器をIWN-SAPPORO及びセミコンジャパン2012に出展します。

 
非接触式比抵抗測定器  M-RES-2000シリーズの展示
・各種導電性基板の測定、Si, GaAs, InP, SiC
エピ膜、イオン注入により出来たメタルレイヤーの測定
ウェーハ基板厚み測定による自動補正機能
  1. IWN2012   International Workshop on Nitride Semiconductors 2012
    札幌コンベンションセンター 
    10/14~19
    WORK SHOP エグゼクター  C-3
    IWN2012 ホームページ http://iwn2012.jp/
  2. セミコンジャパン2012
    幕張メッセ 12/5~7            ブース NO. 4C-801
    セミコンジャパンホームページ http://www.semiconjapan.org/ja/ 
     
    昨年のセミコンジャパン2011にて
            ドイツのKITEC MICROELECTRONIC は20年以上も比接触比抵抗計 を販売、
     今まさに時代が求めている測定器です。    
 

当社はKITECのビジネスパートナーとして日本国内でのウェーハデモ、
  輸入~設置までサポートしております。

当社のKITEC社、比接触比抵抗計のサイト
http://www.msolarsys.co.jp/otherprod/mems.html